扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)测试原理
发布时间：
2023-04-12 19:13
来源：
扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)测试原理:
扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像，对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察，大放大倍数可达30万倍，同时利用电子激发出样品表面的特征X射
线来对微区的成分进行定性定量分析。
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电气性能通常是定义于电气元件的额定电压、电流、有功功率、无功功率、电阻、电容、电感、电导等性能指标。半导体则涵盖面更广，如直流放大倍数、交流放大倍数、整流电流、反向击穿电压、正向导通电压、结电容、噪声系数、特征频率、截止频率、耗散功率等。电性能测试包括导线电阻、绝缘电阻、介质损耗角正确值、电容等导体或绝缘品质的基本参数测试。电缆的工作电压越高，对其电性能要求也越严格。
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